Različne vrste elektronskih mikroskopov

Elektronska mikroskopija izkorišča usmerjen snop elektronov za ustvarjanje slike visoke ločljivosti ciljno vzorcem . Medtem ko so svetlobni mikroskopi omejena v svoji povečavi z valovno dolžino fotonov , so elektronski mikroskopi omejena z veliko manjšo valovno dolžino elektronov in s tem doseganje povečave do skoraj 0,05 nanometrov . Obstajajo štiri glavne vrste elektronskih mikroskopov , vse to pa se lahko v grobem razmejene z vrsto odbite energije, ki jo snemate iz vzorca. Zgodovina

prvi elektronski mikroskop ,transmisijski elektronski mikroskop, je bila zgrajena s strani nemških inženirjev Max Knoll in Ernst Ruska leta 1931 . Čepravizvirnega prototipa doseči nižjo povečavo kot da trenutnih svetlobnih mikroskopov , Knoll in Ruška uspešno dokazalzasnova je to mogoče, in dve leti kasneje pa je presegla svetlobnim mikroskopom pri povečavi moči . Vse kasnejše ponovitve elektronskim mikroskopom temeljijo na tej izvirni prototipa .
Prenosni elektronski mikroskop ( TEM)

transmisijski elektronski mikroskopi izdelavo slik s snemanjem elektronski žarek po njej je skozi tanko rezino vzorcu . Vzorec se postavi na bakrene žice, rešetke in obdavčen z elektronskim žarkom , ki jih običajno izvaja visoko napetost čez volframovo nitko . Elektronski žarek potuje skozi zbiralno lečo , udari ob vzorec in nadaljuje z objektivnimi in projekcijske leče , preden se zbirajo na zaslon fosforjevega . Kot pri vseh oblikah elektronsko mikroskopijo , ciljne osebek se mora posušiti, in izolirali v vakuumu bi preprečili onesnaženje vodnih hlapov , ki lahko povzroči neželeno elektronsko sipanje . TEMS proizvajajo največjo povečavo vseh elektronskih mikroskopov .
Elektronski mikroskop ( SEM)

Vrstični elektronski mikroskopi , skupaj s prenosnimi elektronskimi mikroskopi , sonajbolj pogosto uporablja . Za razliko od TEMS , skeniranje elektronski mikroskopi izdeluje slike z zbiranjem sekundarnih ali inelastically raztresene elektrone , ki odbijajo na površini vzorca . Primarni elektronski žarek potuje skozi več zbiralnih leč , preizkusni tuljav in leče objektiva pred udari ob površino vzorca. Elektronskega snopa je razpršena po hitting vzorec insekundarni detektor elektronov zbere raztresene elektronov . Podatkielektron se nato raster skeniranimi za izdelavo površinske podobe z veliko globino polja .
Odsev elektronski mikroskop ( REM )

Odsev elektronski mikroskopi delujejo zelo podobno SME v smislu strukture . Rems pa zbirajo povratno sipani ali elastično raztresene elektronov poprimarni elektronski žarek zadene primerkov površino . Refleksija elektronski mikroskopi so najpogosteje povezan z vrtilno polarizirana nizkoenergijsko elektronsko mikroskopijo na slikimagnetne domene podpis vzorčnih ploskev v gradbeništvu računalniško vezje .
Scanning prenosni elektronski mikroskop ( STEM )

Scanning menjalnik elektronski mikroskopi , kot tradicionalne TEMS , opraviti elektronski žarek skozi tanko rezino vzorca. Namesto usmerimo elektronskega curka po prehodu skozi vzorec ,STEM osredotoča žarek vnaprej in konstruira podobe skozi raster skeniranje . Prenos Vrstični elektronski mikroskopi so zelo primerni za analitične tehnike kartiranja kot spektroskopijo elektronov izgube energije in obročasto dark- field mikroskopijo .