Prašek XRD lahkonajpogostejša tehnika rentgenski uklonski . Vzorec je sestavljen iz zrn materiala pod analizo . Praškaste difrakcije, se lahko uporablja tudi za preučevanje vzorce v tekočih suspenzij . Izraz " prahu " se ne nanaša na vzorcu prahu , temveč da so kristalinične področja naključno usmerjena v vzorcu . Rezultate vzorcev iz XRD prahu sestavljeno iz stališč in intenzitete vrhov , ki ugotavljajo osnovno strukturo vzorca. Na ta način se bo diamant ali grafit proizvaja različne rezultate, čeprav tako sestavljena iz ogljika na atomski ravni.
Thin Film difrakcija
Thin Film uklon ni toliko single XRD tehniko kot zbirka tehnik za analizo vzorcev tankih filmov , ki so zrasli na podlagah. Ta tehnika se pogosto uporablja v raziskavah in razvoju mikroelektronskih in optoelektronskih naprav . Ta metoda je še posebej koristno pri merjenju natančno konstante rešetke , ki lahko pomagajo meriti strukturno in zaostale napetosti v materialu .
XRD Analysis Techniques
kvalitativna analiza XRD meritve opredeljuje osnovno strukturo vzorcu s primerjavo podatkov, zbranih od podobnih materialov. To zahteva natančne meritve najvišjih položajih in intenzivnosti , da bi natančno določitev sistema difrakcije . Kvantitativna analiza podatkov XRD meri temeljno strukturo vzorcev , ki ne vodijo stalno obliko , kot so večfazne osebkov. Z drugimi besedami , skuša ocenjevanje lastnosti materiala, katerega struktura je vedno spreminjajo s številom faz . Najučinkovitejše metode kvantitativne evalvacije so zelo kompleksni in zahtevajo zmogljive računalnike, za izračun. Na srečo , nekaj poceni različice analizo rentgenske opreme ne obstajajo , čeprav jih ne sme biti kot " uporabniku prijazen", kot komercialne narave.
avtorske pravice Zdravje in Bolezni © https://sl.265health.com Vse pravice pridržane